溫度沖擊試驗(yàn)箱試驗(yàn)主要是針對(duì)于電子產(chǎn)品、電工，以及其原器件，及其它材料在溫度急劇變化的環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)的適應(yīng)性試驗(yàn)。

　　溫度熱冷沖擊性而造成的無效狀況，以便確保電子設(shè)備具備高些的可信性水準(zhǔn)，伴隨著商品抗?jié)衲艿奶嵘?，除開相對(duì)性移動(dòng)式的溫度環(huán)境濕度實(shí)驗(yàn)外，對(duì)溫度熱冷沖擊試驗(yàn)的規(guī)定也越來越多，主要表現(xiàn)在：

 

　　1、因?yàn)樵O(shè)備精密度的規(guī)定，電子器件持續(xù)地遭受更大的焊接應(yīng)力影響。

 

　　2、整個(gè)設(shè)備的微型化促使電子器件更為特別容易遇熱。

 

　　3、可信性規(guī)定及水準(zhǔn)愈來愈高。

 

　　4、生產(chǎn)過程中電子器件將會(huì)遭受，比較嚴(yán)重的焊接應(yīng)力危害，比如：當(dāng)選用焊錫絲電焊焊接時(shí)。

 

　　5、伴隨著攜帶式電子設(shè)備的普及化，商品應(yīng)用自然環(huán)境越來越更為繁雜、嚴(yán)苛。

 

　　6、以便降低成本費(fèi)，選用新型材料，新技術(shù)新工藝。

 

　　溫度沖擊試驗(yàn)箱不同于普通濕熱環(huán)境，它是通過冷熱溫度沖擊來發(fā)現(xiàn)常溫狀態(tài)下，難以發(fā)現(xiàn)的潛在故障問題。決定冷熱溫度沖擊試驗(yàn)的只要因素有:試驗(yàn)溫度范圍、暴露時(shí)間、循環(huán)次數(shù)、試驗(yàn)樣品重量及熱負(fù)荷等。